Tecniche disponibili nell'Ateneo
Lista non esaustiva di altre tecniche di analisi disponibili presso l'Ateneo Aquilano che eseguono analisi per l'esterno:
Diffrazione X (XRD), per analisi sulla struttura cristallina di polveri e film sottili:
maurizio.passacantando@univaq.it
Microscopia a forza atomica (AFM) e ad effetto tunnel (STM), per analisi sulla morfologia delle superfici:
luca.ottaviano@univaq.it
Fotoemissione X (XPS) per analisi chimica di superfici (profondità di informazione <0.01 µm):
luca.lozzi@univaq.it